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Solutions de test et mesure

Racks et boîtiers pour protéger votre équipement de test

Choisir la plate-forme matérielle optimale pour votre conception de système de test peut être une tâche ardue. Chez nVent, nous comprenons bien ce défi. Depuis des décennies, nVent SCHROFF développe des boîtiers et des racks de haute qualité pour les équipementiers et les utilisateurs finaux afin de protéger les composants électroniques sensibles qui constituent les systèmes de test haut de gamme.

Quels que soient les défis physiques auxquels votre système de test est confronté, qu’il s’agisse d’une exigence d’empreinte réduite, d’une dissipation thermique accrue ou d’environnements affectés par des chocs et des vibrations, nos experts techniques sont prêts à collaborer avec vous pour vous offrir la meilleure solution pour votre application.

Nous nous engageons à soutenir les ingénieurs, les scientifiques et les chercheurs dans le développement de systèmes de test innovants qui accélèrent les innovations telles que la 5G, la conduite autonome, l’Internet des objets et la sécurité du réseau.
 

SOLUTIONS POUR UNE LARGE GAMME D’APPLICATIONS

Explorez les points interactifs, ci-dessous, pour visualiser les produits dédiés aux applications, les ressources et bien plus encore.

Industrie

  • Tests fonctionnels tout au long de la ligne de production
  • Tests de contrôle qualité
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Réseau sans fil et technologie de connexion avec l’arrière-plan abstrait de la ville de Bangkok

Télécommunications

  • Tests de laboratoire et de production
  • Mesures du réseau de terrain
  • Tests LTE et 5G
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Un homme d’affaires sur un fond flou, une interface moderne pour voiture intelligente et un rendu 3D

Automobile 

  • Simulation de conduite autonome
  • Tests de connectivité sans fil
  • Tests des systèmes d'aide à la conduite
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Médecin traitant et stéthoscope touchant une icône de connexion au réseau médical avec une interface moderne sur une tablette numérique en milieu hospitalier. Concept de réseau de technologie médicale

Médical 

  • Tests de contrôle du matériel, des capteurs et des logiciels
  • Enregistrement et analyse des données d’application
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Défense et Aéronautique 

  • Tests d'équipements radars, avioniques, de navigation, de communications satellites
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Physique  

  • Équipement de test dans les grands laboratoires scientifiques
  • Accélérateurs de particules
  • Physique des particules
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Solutions d'habillage électronique d'une grande flexibilité, à un coût avantageux

Nos racks et boîtiers peuvent accueillir de petits appareils tels que les cartes ATX ou les Computers on Module (CoM), généralement utilisés pour tester des signaux ou des connexions dédiés tels que le Wi-Fi et le Bluetooth. Nous proposons également des coffrets modulaires capables de recevoir des cartes AXIe, PXIe, cPCIe, couramment utilisées dans les systèmes de test adaptés au contrôle des produits complexes en production ou autres applications.

nVent SCHROFF propose la gestion de projets, le développement, la réalisation de prototypes, les tests, la certification, la pré-production et la production en série sous un seul toit.

Nouveautés

Expansion des systèmes Express PXI

nVent élargit sa gamme de produits avec le SCHROFF PXI Express à 18 slots. L’utilisation de modules standard garantit un haut degré de flexibilité et permet une adaptation économique de la solution système aux exigences du client.

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Configurateurs 3D

Configurateur en ligne avec assistant

Grâce à une expérience utilisateur intuitive, ce configurateur permet aux utilisateurs de créer un modèle graphique 3D de leur bac à cartes avec l’aide d’un assistant intelligent.

 

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Contrôleur embarqué PXIe 

nVent a amélioré les performances de son contrôleur embarqué PXIe pour une utilisation dans les applications de mesure et de test PXI Express.

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Calculateur sur Module Nano System

Le système COM Nano est un ordinateur puissant qui mesure 140 mm × 115 mm × 45 mm et fonctionne avec toutes les interfaces PC courantes.

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Pourquoi nVent SCHROFF ?

Intégration et personnalisation

En plus de nos diverses familles de produits, nous proposons également des solutions pré-assemblées et personnalisées, avec possibilité de réaliser des découpes, marquages et intégrations électroniques. Pour d’autres services tels que la conception de cartes fond de panier, la simulation thermique et les tests CEM ou de chocs et de vibrations, nos experts se tiennent à votre disposition.

Études de cas

De l’environnement le plus simple à l’environnement le plus exigeant, nous protégeons les instruments de mesure électriques et l’équipement de test électronique vitaux à l’aide de racks et de coffrets, de gestion thermique et d’accessoires pour assurer un fonctionnement continu. Voyez comment nous connectons et protégeons votre équipement de test électrique et électronique.

Tests d'équipements de communication sans fil

Le châssis Interscale nVent SCHROFF pour les ordinateurs mono carte permet une flexibilité en termes de dimensions, de découpes, de montage et de marque individuelle. Technologie...

Gestion des données au sein du European XFEL

Les systèmes MicroTCA répondent à la demande croissante en matière de fiabilité et de capacités de traitement des signaux pour la physique des accélérateurs. Société : Situé à Hambourg, en Allemagne...

Services

Webinaire à la demande : Les tendances dans le domaine du Test et Mesure

Dans ce webinaire, nous évoquons les dernières tendances du secteur des tests et des mesures, et la manière dont vous devez adapter votre habillage électronique en conséquence.

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Webinaire à la demande : Modularité dans les tests et les mesures

La modularité joue un rôle essentiel dans le développement de logiciels, mais également dans la conception matérielle. Découvrez comment économiser du temps et réduire les coûts en utilisant des modules PXI Express pour votre conception de carte fond de panier ou une solution COM pour votre système de test à petit facteur de forme.

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Article @Evaluation Engineering

La conduite autonome impose des exigences croissantes sur les tâches de simulation, de test et de mesure, mais affecte également les solutions du coffret et de baies des systèmes de test.

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Ressources utiles

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